论文标题

$ e^+e^ - \toπ^+π^-J/ψ$横截面的测量在3.872 GEV附近

Measurement of the $e^+e^-\toπ^+π^-J/ψ$ cross section in the vicinity of 3.872 GeV

论文作者

BESIII Collaboration, Ablikim, M., Achasov, M. N., Adlarson, P., Albrecht, M., Aliberti, R., Amoroso, A., An, M. R., An, Q., Bai, X. H., Bai, Y., Bakina, O., Ferroli, R. Baldini, Balossino, I., Ban, Y., Batozskaya, V., Becker, D., Begzsuren, K., Berger, N., Bertani, M., Bettoni, D., Bianchi, F., Bloms, J., Bortone, A., Boyko, I., Briere, R. A., Brueggemann, A., Cai, H., Cai, X., Calcaterra, A., Cao, G. F., Cao, N., Cetin, S. A., Chang, J. F., Chang, W. L., Chelkov, G., Chen, C., Chen, Chao, Chen, G., Chen, H. S., Chen, M. L., Chen, S. J., Chen, S. M., Chen, T., Chen, X. R., Chen, X. T., Chen, Y. B., Chen, Z. J., Cheng, W. S., Choi, S. K., Chu, X., Cibinetto, G., Cossio, F., Cui, J. J., Dai, H. L., Dai, J. P., Dbeyssi, A., de Boer, R. E., Dedovich, D., Deng, Z. Y., Denig, A., Denysenko, I., Destefanis, M., DeMori, F., Ding, Y., Dong, J., Dong, L. Y., Dong, M. Y., Dong, X., Du, S. X., Egorov, P., Fan, Y. L., Fang, J., Fang, S. S., Fang, W. X., Fang, Y., Farinelli, R., Fava, L., Feldbauer, F., Felici, G., Feng, C. Q., Feng, J. H., Fischer, K., Fritsch, M., Fritzsch, C., Fu, C. D., Gao, H., Gao, Y. N., Gao, Yang, Garbolino, S., Garzia, I., Ge, P. T., Ge, Z. W., Geng, C., Gersabeck, E. M., Gilman, A., Goetzen, K., Gong, L., Gong, W. X., Gradl, W., Greco, M., Gu, L. M., Gu, M. H., Gu, Y. T., YGuan, C., Guo, A. Q., Guo, L. B., Guo, R. P., Guo, Y. P., Guskov, A., Han, T. T., Han, W. Y., Hao, X. Q., Harris, F. A., He, K. K., He, K. L., Heinsius, F. H., Heinz, C. H., Heng, Y. K., Herold, C., Himmelreich, Hou, G. Y., Hou, Y. R., Hou, Z. L., Hu, H. M., Hu, J. F., Hu, T., Hu, Y., Huang, G. S., Huang, K. X., Huang, L. Q., Huang, L. Q., Huang, X. T., Huang, Y. P., Huang, Z., Hussain, T., NHüsken, Imoehl, W., Irshad, M., Jackson, J., Jaeger, S., Janchiv, S., Jang, E., Jeong, J. H., Ji, Q., Ji, Q. P., Ji, X. B., Ji, X. L., Ji, Y. Y., Jia, Z. K., Jiang, H. B., Jiang, S. S., Jiang, X. S., Jiang, Y., Jiao, J. B., Jiao, Z., Jin, S., Jin, Y., Jing, M. Q., Johansson, T., Kalantar-Nayestanaki, N., Kang, X. S., Kappert, R., Kavatsyuk, M., Ke, B. C., Keshk, I. K., Khoukaz, A., Kiese, P., Kiuchi, R., Kliemt, R., Koch, L., Kolcu, O. B., Kopf, B., Kuemmel, M., Kuessner, M., Kupsc, A., Kühn, W., Lane, J. J., Lange, J. S., Larin, P., Lavania, A., Lavezzi, L., Lei, Z. H., Leithoff, H., Lellmann, M., Lenz, T., Li, C., Li, C., Li, C. H., ChengLi, Li, D. M., Li, F., Li, G., Li, H., Li, H., Li, H. B., Li, H. J., Li, H. N., Li, J. Q., Li, J. S., Li, J. W., KeLi, JLi, L., Li, L. K., LeiLi, Li, M. H., Li, P. R., Li, S. X., Li, S. Y., Li, T., Li, W. D., Li, W. G., Li, X. H., Li, X. L., XiaoyuLi, Liang, H., Liang, H., Liang, H., Liang, Y. F., Liang, Y. T., Liao, G. R., Liao, L. Z., Libby, J., Limphirat, A., Lin, C. X., Lin, D. X., Lin, T., Liu, B. J., Liu, C. X., Liu, D., Liu, F. H., FangLiu, FengLiu, Liu, G. M., Liu, H., Liu, H. B., Liu, H. M., HuanhuanLiu, HuihuiLiu, Liu, J. B., Liu, J. L., Liu, J. Y., Liu, K., Liu, K. Y., KeLiu, Liu, L., LuLiu, Liu, M. H., Liu, P. L., Liu, Q., Liu, S. B., Liu, T., Liu, W. K., Liu, W. M., Liu, X., Liu, Y., Liu, Y. B., Liu, Z. A., Liu, Z. Q., Lou, X. C., Lu, F. X., Lu, H. J., Lu, J. G., Lu, X. L., Lu, Y., Lu, Y. P., Lu, Z. H., Luo, C. L., Luo, M. X., Luo, T., Luo, X. L., Lyu, X. R., Lyu, Y. F., Ma, F. C., Ma, H. L., Ma, L. L., Ma, M. M., Ma, Q. M., Ma, R. Q., Ma, R. T., Ma, X. Y., Ma, Y., Maas, F. E., Maggiora, M., Maldaner, S., Malde, S., Malik, Q. A., Mangoni, A., Mao, Y. J., Mao, Z. P., Marcello, S., Meng, Z. X., Messchendorp, J. G., Mezzadri, G., Miao, H., Min, T. J., Mitchell, R. E., Mo, X. H., Muchnoi, N. Yu., Nefedov, Y., Nerling, F., Nikolaev, I. B., Ning, Z., Nisar, S., Niu, Y., Olsen, S. L., Ouyang, Q., Pacetti, S., Pan, X., Pan, Y., Pathak, A., Pathak, A., Pelizaeus, M., Peng, H. P., Peters, K., Pettersson, J., Ping, J. L., Ping, R. G., Plura, S., Pogodin, S., Prasad, V., Qi, F. Z., Qi, H., Qi, H. R., Qi, M., Qi, T. Y., Qian, S., Qian, W. B., Qian, Z., Qiao, C. F., Qin, J. J., Qin, L. Q., Qin, X. P., Qin, X. S., Qin, Z. H., Qiu, J. F., Qu, S. Q., Qu, S. Q., Rashid, K. H., Redmer, C. F., Ren, K. J., Rivetti, A., Rodin, V., Rolo, M., Rong, G., Rosner, Ch., Ruan, S. N., Sang, H. S., Sarantsev, A., Schelhaas, Y., Schnier, C., Schönning, K., Scodeggio, M., Shan, K. Y., Shan, W., Shan, X. Y., Shangguan, J. F., Shao, L. G., Shao, M., Shen, C. P., Shen, H. F., Shen, X. Y., Shi, B. A., Shi, H. C., Shi, J. Y., Shi, q. q., Shi, R. S., Shi, X., DShi, X., Song, J. J., Song, W. M., Song, Y. X., Sosio, S., Spataro, S., Stieler, F., Su, K. X., Su, P. P., Su, Y. J., Sun, G. X., Sun, H., Sun, H. K., Sun, J. F., Sun, L., Sun, S. S., Sun, T., Sun, W. Y., XSun, Sun, Y. J., Sun, Y. Z., Sun, Z. T., Tan, Y. H., Tan, Y. X., Tang, C. J., Tang, G. Y., Tang, J., YTao, L., Tao, Q. T., Tat, M., Teng, J. X., Thoren, V., Tian, W. H., Tian, Y., Uman, I., Wang, B., Wang, B. L., Wang, C. W., Wang, D. Y., Wang, F., Wang, H. J., Wang, H. P., Wang, K., Wang, L. L., Wang, M., Wang, M. Z., MengWang, Wang, S., Wang, S., Wang, T., Wang, T. J., Wang, W., Wang, W. H., Wang, W. P., Wang, X., Wang, X. F., Wang, X. L., Wang, Y. D., Wang, Y. F., Wang, Y. H., Wang, Y. Q., YaqianWang, Wang, Y., Wang, Z., Wang, Z. Y., ZiyiWang, Wei, D. H., Weidner, F., Wen, S. P., White, D. J., Wiedner, U., Wilkinson, G., Wolke, M., Wollenberg, L., Wu, J. F., Wu, L. H., Wu, L. J., Wu, X., Wu, X. H., Wu, Y., Wu, Z., Xia, L., Xiang, T., Xiao, D., Xiao, G. Y., Xiao, H., Xiao, S. Y., Xiao, Y. L., Xiao, Z. J., Xie, C., Xie, X. H., Xie, Y., Xie, Y. G., Xie, Y. H., Xie, Z. P., Xing, T. Y., Xu, C. F., Xu, C. J., Xu, G. F., Xu, H. Y., Xu, Q. J., Xu, X. P., Xu, Y. C., Xu, Z. P., Yan, F., Yan, L., Yan, W. B., Yan, W. C., Yang, H. J., Yang, H. L., Yang, H. X., Yang, L., Yang, S. L., TaoYang, Yang, Y. F., Yang, Y. X., YifanYang, Ye, M., Ye, M. H., Yin, J. H., You, Z. Y., Yu, B. X., Yu, C. X., Yu, G., Yu, T., Yu, X. D., Yuan, C. Z., Yuan, L., Yuan, S. C., Yuan, X. Q., Yuan, Y., Yuan, Z. Y., Yue, C. X., Zafar, A. A., Zeng, F. R., Zeng, X., Zeng, Y., Zhan, Y. H., Zhang, A. Q., Zhang, B. L., Zhang, B. X., Zhang, D. H., Zhang, G. Y., Zhang, H., Zhang, H. H., Zhang, H. H., Zhang, H. Y., Zhang, J. L., Zhang, J. Q., Zhang, J. W., Zhang, J. X., Zhang, J. Y., Zhang, J. Z., JianyuZhang, JiaweiZhang, Zhang, L. M., Zhang, L. Q., LeiZhang, Zhang, P., Zhang, Q. Y., ShuihanZhang, ShuleiZhang, Zhang, X. D., Zhang, X. M., Zhang, X. Y., Zhang, X. Y., Zhang, Y., Zhang, Y. T., Zhang, Y. H., YanZhang, YaoZhang, Zhang, Z. H., Zhang, Z. Y., Zhang, Z. Y., Zhao, G., Zhao, J., Zhao, J. Y., Zhao, J. Z., LeiZhao, LingZhao, Zhao, M. G., Zhao, Q., Zhao, S. J., Zhao, Y. B., Zhao, Y. X., Zhao, Z. G., Zhemchugov, A., Zheng, B., Zheng, J. P., Zheng, Y. H., Zhong, B., Zhong, C., Zhong, X., Zhou, H., Zhou, L. P., Zhou, X., Zhou, X. K., Zhou, X. R., Zhou, X. Y., Zhou, Y. Z., Zhu, J., Zhu, K., Zhu, K. J., Zhu, L. X., Zhu, S. H., Zhu, S. Q., Zhu, T. J., Zhu, W. J., Zhu, Y. C., Zhu, Z. A., Zou, B. S., Zou, J. H.

论文摘要

我们报告了该过程的横截面的测量值$ e^+e^ - \toπ^+π^-j/ψ$围绕$ x(3872)$质量,以通过两件式融合过程搜索$ e^+e^ - \ to x(3872)$的直接形成。在$ x(3872)$ peak和电子宽度和分支分数的$ x(3872)\toπ^+π^-J/ψ$的乘积上,没有观察到横截面的增强和上限的上限。 $γ_{ee} \ times \ Mathcal {b}(x(3872)\toπ^+π^-J/ψ)<7.5 \ 7.5 \ times10^{ - 3} \,\ text {ev} $ at $ 90 \,\%$ prustise prusterive the Profucer Pusitive Lever the Profucer Pusitive Lever Profestion Pusitive Lever with Profuct oferative Lever total Width witter width of总宽度。与以前的限制相比,这是约17美元的提高。此外,使用$ \ Mathcal {b}(x(3872)\toπ^+π^-j/ψ)$的最新结果,获得了$ x(3872)$的电子宽度$γ_{ee} $的上限,为$ <0.32 \,\ fextripert $ <0.32 \,\ text $ coptorce coptriofe ustres $ x(3872)$。

We report a measurement of the cross section for the process $e^+e^-\toπ^+π^-J/ψ$ around the $X(3872)$ mass in search for the direct formation of $e^+e^-\to X(3872)$ through the two-photon fusion process. No enhancement of the cross section is observed at the $X(3872)$ peak and an upper limit on the product of electronic width and branching fraction of $X(3872)\toπ^+π^-J/ψ$ is determined to be $Γ_{ee}\times\mathcal{B}(X(3872)\toπ^+π^-J/ψ)<7.5\times10^{-3}\,\text{eV}$ at $90\,\%$ confidence level under an assumption of total width of $1.19\pm0.21$ MeV. This is an improvement of a factor of about $17$ compared to the previous limit. Furthermore, using the latest result of $\mathcal{B}(X(3872)\toπ^+π^-J/ψ)$, an upper limit on the electronic width $Γ_{ee}$ of $X(3872)$ is obtained to be $<0.32\,\text{eV}$ at the $90\,\%$ confidence level.

扫码加入交流群

加入微信交流群

微信交流群二维码

扫码加入学术交流群,获取更多资源