(19)国家知识产权局
(12)发明 专利
(10)授权公告 号
(45)授权公告日
(21)申请 号 202210963058.0
(22)申请日 2022.08.11
(65)同一申请的已公布的文献号
申请公布号 CN 115049837 A
(43)申请公布日 2022.09.13
(73)专利权人 合肥高维数据技 术有限公司
地址 230088 安徽省合肥市高新区望江西
路900号中安创谷科技园一期A1栋21
楼
专利权人 中国科学技术大学
(72)发明人 田辉 马泽华 张卫明 俞能海
郭玉刚 张志翔
(51)Int.Cl.
G06V 10/28(2022.01)
G06T 1/00(2006.01)G06V 10/44(2022.01)
G06V 10/764(2022.01)
G06V 30/148(2022.01)
G06V 30/162(2022.01)
G06V 30/18(2022.01)
G06V 30/19(2022.01)
(56)对比文件
CN 103186889 A,2013.07.0 3
CN 112102141 A,2020.12.18
CN 114419006 A,2022.04.29
CN 103186889 A,2013.07.0 3
CN 112017200 A,2020.12.01
US 2018131837 A1,2018.0 5.10
US 2007223782 A1,20 07.09.27
审查员 胡晓雨
(54)发明名称
特征图干扰去除方法和包含该方法的屏摄
水印识别方法
(57)摘要
本发明特别涉及一种特征图干扰去除方法
和包含该方法的屏摄水印识别方法, 其中一种特
征图干扰去除方法, 包括如下步骤: 对特征图的
原始图像进行自适应二值化处理得到前景图并
将前景图作为掩膜图像; 根据掩膜图像, 以固定
步长逐级从外向内进行腐蚀操作; 将腐蚀操作后
的结果和上一级的掩膜 图像进行比较得到插值
区域; 计算特征图插值区域的均值滤波并将计算
结果填充至插值区域; 持续上述步骤直至掩膜图
像腐蚀到消失, 经过多次填充后得到去除干扰后
的特征图。 本方法可以方便的实现前景图的淡
化, 从特征图中有效地去除了前 景图的干 扰。
权利要求书2页 说明书4页 附图5页
CN 115049837 B
2022.11.18
CN 115049837 B
1.一种特 征图干扰去除方法, 其特 征在于: 包括如下步骤:
对特征图的原 始图像进行自适应二 值化处理得到前 景图并将前 景图作为掩膜图像;
根据掩膜图像, 以固定步长逐级从外向内进行腐蚀操作;
将腐蚀操作后的结果和上一级的掩膜图像进行比较得到插值区域;
计算特征图插值区域的均值滤波并将计算结果 填充至插值区域;
持续上述 步骤直至掩膜图像腐蚀到消失, 经 过多次填充后得到去除干扰后的特 征图。
2.如权利要求1所述的特征图干扰去除方法, 其特征在于: 所述的对特征图进行自适应
二值化处理得到前景图并将前景图作为掩膜图像步骤中, 将前景图进 行膨胀处理后得到的
图像作为掩膜图像。
3.如权利要求1所述的特征图干扰去除方法, 其特征在于: 所述以固定步长逐级从外向
内进行腐蚀操作中的固定步长为1~4像素。
4.如权利要求1所述的特征图干扰去除方法, 其特征在于: 所述的步骤对特征图的原始
图像进行自适应二值化处理得到前景图并将前景图作为掩膜图像中, 特征图和原始图像按
如下步骤获得:
对拍摄的屏幕图像进行剪 裁和/或缩放得到原 始图像;
利用水印提取程序对原 始图像进行 水印提取 得到特征图。
5.如权利要求4所述的特征图干扰去除方法, 其特征在于: 所述拍摄的屏幕图像包含文
字, 前景图即文字区域; 原 始图像的尺寸与水印提取程序的输出尺寸相同。
6.一种屏摄水印识别方法, 其特 征在于: 包括如下步骤:
对拍摄的屏幕图像进行剪 裁和/或缩放得到原 始图像;
利用水印提取程序对原 始图像进行 水印提取 得到特征图;
将原始图像和特征图按照权利要求1中所述的步骤进行处理得到去除干扰后的特征
图;
构造与水印特 征尺寸相对应的特 征滤波器;
使用特征滤波器对去除干扰后的特 征图进行提取强化得到响应图像;
根据响应图像计算水印可能性评分S, 并将S与设定的阈值T进行比较, 若S>T, 则判定
待检测屏摄图像中含有水印, 否则判定待检测屏摄图像中不含水印。
7.如权利要求6所述的屏摄水印识别方法, 其特征在于: 所述的待检测屏摄图像中的水
印为块状; 所述的构造与水印特 征尺寸相对应的特 征滤波器包括如下步骤:
根据块状的水印确定其组成结构, 该 结构包括 边角结构、 直 边结构以及棋盘 状结构;
针对这三个结构设计14个强化水印边缘信 息的特征滤波器, 特征滤波器的尺寸大于水
印特征尺寸;
所述的使用特征滤波器对去除干扰后的特征图进行提取强化得到响应图像包括: 使用
特征滤波器对去除干扰后的特征图进行提取强化, 对于每个特征滤波器i得到一个特征图
对该特征滤波器的结构模式响应图像Ri, 其中i=1,2,…,14。
8.如权利要求7所述的屏摄水印识别方法, 其特征在于: 所述的根据响应图像计算水印
可能性评分S包括如下步骤:
将14个响应图像Ri合而为一得到综合响应图像R, 综合响应图像R在坐标(x,y)处的取值
R(x,y)按如下公式计算得到: R(x,y)=max[Ri(x,y)], 式中, Ri(x,y)即第i个响应图像在坐权 利 要 求 书 1/2 页
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CN 115049837 B
2标(x,y)处的取值;
对综合响应图像R所有坐标位置的取值 求平均值即为水印可能性评分S;
所述的阈值T为常数, 且6 ≤T≤7。
9.一种计算机可读存储介质, 其特征在于: 其上存储有计算机程序, 所述计算机程序被
处理器执行时, 实现如权利要求1 ‑5中任一项所述的特征图干扰去除方法或如权利要求6 ‑8
中任一项所述的屏摄水印识别方法。
10.一种电子设备, 其特征在于: 包括存储器、 处理器及存储在存储器上的计算机程序,
所述处理器执行所述计算机程序时, 实现如权利要求1 ‑5中任一项所述的特征图干扰去除
方法或如权利要求6 ‑8中任一项所述的屏摄水印识别方法。权 利 要 求 书 2/2 页
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CN 115049837 B
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专利 特征图干扰去除方法和包含该方法的屏摄水印识别方法
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