(19)国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告 号 (45)授权公告日 (21)申请 号 202221329022.9 (22)申请日 2022.05.31 (73)专利权人 镇江春环密封件集团有限公司 地址 212200 江苏省镇江市扬中市永胜 工 业区 (72)发明人 庄小东　刘刚　 (74)专利代理 机构 江苏德耀知识产权代理有限 公司 32583 专利代理师 马英 (51)Int.Cl. G01N 21/84(2006.01) G01N 21/01(2006.01) (54)实用新型名称 一种用于薄膜内部相分离状态及其结晶状 态检测装置 (57)摘要 本实用新型涉及检测装置技术领域， 且公开 了一种用于薄膜内部相分离状态及其结晶状态 检测装置， 解决了现有检测装置不便于对薄膜进 行限位固定， 容易造成薄膜的不平整以及产生褶 皱而影响检测结果的问题， 其包括支撑底座， 支 撑底座顶端的中间位置设置有薄膜 放置台， 支撑 底座顶端设置有环形磁铁， 支撑底 座的顶部设置 有支撑架， 支撑架的底端活动设置有检测相机， 检测相机的底端设置有光学放大 组件， 支撑底座 的顶端设置有薄膜限位固定组件， 薄膜限位固定 组件由支撑环和若干可调节限位座构成； 通过该 检测装置在检测时便于对薄膜进行限位固定， 能 够保证薄膜的平整度， 避免产生褶皱， 同时薄膜 限位固定组件可调节， 操作方便， 避免造成薄膜 的破损。 权利要求书1页 说明书3页 附图2页 CN 218036433 U 2022.12.13 CN 218036433 U 1.一种用于薄膜内部相分离状态及其结晶状态检测装置， 包括支撑底座(1)， 其特征在 于： 所述支撑底 座(1)顶端的中间位置设置有薄膜 放置台(2)， 支撑底 座(1)顶端设置有位于 薄膜放置台(2)外侧的环形磁铁(3)， 支撑底 座(1)的顶部设置有支撑架(4)， 支撑架(4)的底 端活动设置有检测相机(5)， 检测相机(5)的底端设置有光学放大组件(6)， 支撑底座(1)的 顶端设置有与环形磁铁(3)相匹配的薄膜限位固定组件(7)， 薄膜限位固定组件(7)由支撑 环(8)和若干可调节限位 座(9)构成， 可调节限位 座(9)穿插于支撑环(8)的内部 。 2.根据权利要求1所述的一种用于薄膜内部相分离状态及其结晶状态检测装置， 其特 征在于： 所述可调节限位座(9)由手柄(10)、 限位盘一(11)、 连接柱(12)、 限位盘二(13)、 连 接卡套(14)和磁铁(15)构成， 限位盘一(11)固定连接于手柄(10)的底端， 连接柱(12)固定 连接于限位盘一(11)的底端， 限位盘二(13)固定连接于连接柱(12)的底端， 连接卡套(14) 固定连接 于限位盘二(13)的底端， 磁铁(15)固定连接 于连接卡套(14)内部的底端。 3.根据权利要求2所述的一种用于薄膜内部相分离状态及其结晶状态检测装置， 其特 征在于： 所述磁铁(15)的底端设置有缓冲垫片(16)， 缓冲垫片(16)为橡胶材质。 4.根据权利要求1所述的一种用于薄膜内部相分离状态及其结晶状态检测装置， 其特 征在于： 所述支撑环(8)的侧边固定设置有 若干与支撑底座(1)相匹配的支撑腿(17)。 5.根据权利要求1所述的一种用于薄膜内部相分离状态及其结晶状态检测装置， 其特 征在于： 所述支撑环(8)的顶端开设有 若干与可调节限位 座(9)相匹配的通 孔(18)。 6.根据权利要求1所述的一种用于薄膜内部相分离状态及其结晶状态检测装置， 其特 征在于： 所述支撑底座(1)的正面开设有与薄膜限位固定组件(7)相匹配的放置槽(19)， 放 置槽(19)的正 面设置有盖 板(20)。权　利　要　求　书 1/1 页 2 CN 218036433 U 2一种用于薄膜内部相分离状态 及其结晶状态检测装 置 技术领域 [0001]本实用新型属于检测装置技术领域， 具体为一种用于薄膜内部相分离状态及 其结 晶状态检测装置 。 背景技术 [0002]结晶功能性高分子薄膜在电子和信息等高新技术产业有很好的应用， 对于结晶的 高分子薄膜来说， 其内部相分离状态及其结晶状态对薄膜的物理和机械性能有很大的影 响， 所以研究高分子薄膜的结 晶行为既可以更加深入地理解高分子结 晶的本质， 也有利于 调控晶体结构来优化高分子薄膜的性能。 [0003]在高分子薄膜生产完成后， 需要对其内部 的相分离状态及其结晶态进行检测， 目 前的检测装置在对薄膜进 行检测时一般是将截取的薄膜直接放置于检测镜头的下方， 不便 于对薄膜进行限位固定， 容 易造成薄膜的不平整以及产生褶皱而影响检测结果。 实用新型内容 [0004]针对上述情况， 为克服现有技术的缺陷， 本实用新型提供一种用于薄膜内部相分 离状态及其结 晶状态检测装置， 有效的解决了现有检测装置不便于对薄膜进行限位固定， 容易造成薄膜的不平整以及产生褶皱而影响检测结果的问题。 [0005]为实现上述目的， 本实用新型提供如下技术方案： 一种用于薄膜内部相分离状态 及其结晶状态检测装置， 包括支撑底 座， 所述支撑底座顶端的中间位置 设置有薄膜放置台， 支撑底座顶端设置有位于薄膜放置台外侧的环形磁铁， 支撑底座的顶部设置有支撑架， 支 撑架的底端活动设置有检测相 机， 检测相 机的底端设置有光学放大组件， 支撑底座的顶端 设置有与 环形磁铁相匹配的薄膜限位固定组件， 薄膜限位固定组件由支撑环和若干可调节 限位座构成， 可调节限位 座穿插于支撑环的内部 。 [0006]优选的， 所述可调节限位座由手柄、 限位盘一、 连接柱、 限位盘二、 连接卡套和磁铁 构成， 限位盘一固定连接于手柄的底端， 连接柱固定连接于限位盘一的底端， 限位盘二固定 连接于连接柱的底端， 连接卡套固定连接于限位盘二的底端， 磁铁固定连接于连接卡套内 部的底端。 [0007]优选的， 所述磁铁的底端设置有缓冲垫片， 缓冲垫片为橡胶材质。 [0008]优选的， 所述支撑环的侧边固定设置有 若干与支撑底座相匹配的支撑腿。 [0009]优选的， 所述支撑环的顶端开设有 若干与可调节限位 座相匹配的通 孔。 [0010]优选的， 所述支撑底座的正面开设有与薄膜限位固定组件相匹配的放置槽， 放置 槽的正面设置有盖 板。 [0011]与现有技 术相比， 本实用新型的有益效果是： [0012](1)、 在工作中， 通过设置由支撑环和若干可调节限位座构成的薄膜限位固定组件 以及由手柄、 限位盘一、 连接柱、 限位盘二、 连接卡套和 磁铁构成的可调节限位座能够在对 薄膜检测时对薄膜进 行限位固定， 能够保证薄膜的平整度， 避免产生褶皱， 同时薄膜限位固说　明　书 1/3 页 3 CN 218036433 U 3